納米粒度及Zeta電位分析儀是一種用于環(huán)境科學(xué)技術(shù)及資源科學(xué)技術(shù)領(lǐng)域的物理性能測(cè)試儀器。
 

　　納米粒度及電位分析儀具有*的粒度和電位分析功能，能滿足廣大納米材料、制劑開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)用戶的顆粒粒度和表面電位的測(cè)試需求。
 

　　該儀器使用電泳光散射技術(shù)測(cè)定zeta電位，動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)測(cè)量粒子和分子粒度，以及靜態(tài)光散射技術(shù)測(cè)定蛋白質(zhì)與聚合物的分子量。
 

　　測(cè)量納米粒度及Zeta電位分析儀的方法主要有哪些呢?下面讓我們一起來(lái)了解一下吧
 

　　1、電泳光散射法
 

　　常見(jiàn)的測(cè)試zeta電位的方法是利用光學(xué)法，也就是電泳光散射法，由于此方法可以和動(dòng)態(tài)光散射法相結(jié)合，隨著納米粒度及zeta電位儀的市場(chǎng)擴(kuò)大，而這種方法被廣大客戶接受。此方法的特點(diǎn)有:樣品必須要進(jìn)行稀釋后試;不同濃度對(duì)測(cè)試結(jié)果影響比較大;測(cè)試結(jié)果重復(fù)性較差，一般在±10mv以?xún)?nèi)。
 

　　2、超聲電聲法電聲法不是采用光學(xué)方法
 

　　而是采用聲波信號(hào)，因此設(shè)備有聲波的優(yōu)勢(shì)。穿透力強(qiáng)，可以進(jìn)行原液測(cè)試。原液測(cè)試樣品的zeta電位時(shí)和稀釋后測(cè)試結(jié)果會(huì)不一樣，因?yàn)樵簳r(shí)顆粒的雙電層被壓縮。此方法優(yōu)勢(shì)有:樣品無(wú)需稀釋?zhuān)哼M(jìn)行測(cè)試分析樣品的粒徑和zeta電位值，更加準(zhǔn)確表征樣品本身狀態(tài)。測(cè)試結(jié)果重復(fù)性比較好。一般在±0。3mv以?xún)?nèi)。可以測(cè)試微觀參數(shù)，如德拜長(zhǎng)度，杜坎數(shù)，雙電層的面電荷密度等。
 

　　3、流動(dòng)電位法
 

　　以上兩種方法主要是測(cè)試液體的zeta電位，有很多客戶需要測(cè)試固體表面的zeta電位，中空纖維內(nèi)部的zeta電位，膜表面的zeta電位等，此時(shí)即需要流動(dòng)法來(lái)進(jìn)行測(cè)試。即在樣品池中加入樣品，在一定壓力梯度下將緩沖液推入樣品池，緩沖液會(huì)帶動(dòng)樣品表面的電荷流向樣品池兩邊的電極，測(cè)試得到電壓值。
 

　　4、微電泳法
 

　　微電泳法測(cè)試zeta電位，前端兩側(cè)為四個(gè)電極，進(jìn)行正向和反向加電場(chǎng)，上方為ccd相機(jī)，進(jìn)行對(duì)運(yùn)動(dòng)的帶電粒子做視頻跟蹤，得到信號(hào)，從而得到每一個(gè)顆粒的遷移率，計(jì)算得到每個(gè)顆粒的zeta電位，從而得到zeta電位的分布。